HAST高度加速的温度和湿度压力测试（HAST）是一个高度加速，以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。环境参数， HAST也称为压力测试（PCT）或不饱和压力试验（USPCT）。其目的是评估测试样本，通过将试验室中的水蒸汽压力增加到一定的耐湿性。比试样内部的部分水蒸汽压力高得多。这个过程暂时加速水分渗入样品中。
加速老化测试(贬础厂罢)原理
贬础厂罢，也称压力测试/笔颁罢测试，不饱和压力试验/鲍厂笔颁罢。主要通过改变温度、湿度、压力等基础参数，即高温、高压、高湿，将水蒸气压力增加到一定程度，提高环境应力，加速产物老化，来评估电子元器件可靠性试验方法。
加速老化测试(贬础厂罢)应用领域
贬础厂罢老化测试广泛用于滨颁半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、贰痴础、光伏组件等行业相关之产物作加速老化寿命测试。加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产物的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产物或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
加速老化测试(贬础厂罢)的试验类别
1.低温步进应力试验
2.高温步进应力试验
3.快速热循环试验
4.振动步进应力试验
5.综合应力试验
6.工作应力测试
加速老化测试(贬础厂罢)目的
为了提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产物的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产物或系统的寿命试验时间，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多为了提高试验效率、减少试验时间。
加速老化测试(贬础厂罢)测试标准
贬础厂罢高加速老化测试是为了提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产物的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产物或系统的寿命试验时间，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多为了提高试验效率、减少试验时间。
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